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Soluciones de equipamiento de pruebas automatizadas de Aratas para sistemas de pruebas de circuitos integrados y manipuladores de pruebas de circuitos integrados
Aratas proporciona una amplia gama de relés de señal, interruptores, sensores y conectores esenciales para los sistemas de pruebas de circuitos integrados y manipuladores de pruebas de circuito Los relés de señal están diseñados en tamaños compactos para optimizar el espacio en la placa, lo que asegura un rendimiento constante que mejora la longevidad de los instrumentos de prueba y las placas de interfaz. Aratas fabrica interruptores, conectores y sensores de alta calidad para el mecanismo de manejo, el panel de control y la tarjeta de interfaz, lo que garantiza la fiabilidad de los productos a lo largo de todo su proceso de diseño.
-
Alto flujo de corriente
con baja resistencia en estado activo -
Baja capacitancia en estado de apagado
por resistencia en estado activo (CxR) - Alta resistencia térmica de de 110 °C a 125 °C
-
Bajo estado apagado
de corriente de fuga -
Relé electromecánico
de señal débil
Alto flujo de corriente con baja resistencia de encendido
La gama de relés MOSFET diseñada por Aratas para el mercado de equipos de prueba automática (ATE) ofrece una elevada capacidad de corriente y una baja resistencia en estado activo. Estos tamaños pequeños presentan una resistencia de encendido de tan solo 0.05 Ω y pueden soportar niveles de corriente de hasta 4.5 A. Este diseño se ajusta a las exigencias de la conmutación de potencia y, de hecho, ahorra espacio en la placa.
Aplicaciones:
- Sistema de prueba de CI
- Manipuladores de pruebas de CI
- Sistema de prueba de obleas de semiconductores
- Probadores en circuito
- Probador general
- Equipo de prueba en línea para dispositivos portátiles y piezas de módulos
Baja capacitancia en estado desactivado por resistencia en estado activado (CxR)
Los relés MOSFET presentan baja capacitancia en estado apagado y resistencia en estado encendido (CxR) para satisfacer las necesidades del mercado ATE, con algunos modelos alcanzando un CxR tan bajo como 2 pF·Ω. Estos relés compactos ofrecen un control preciso de la señal, lo que permite velocidades de conmutación más rápidas, reduce la distorsión de la señal y mejora la precisión y la vida útil.
Lógica estándar
- Sistema de prueba de CI
- Manipuladores de pruebas de CI
- Sistema de prueba de obleas de semiconductores
- Probadores en circuito
- Probador general
- Equipo de prueba en línea para dispositivos portátiles y piezas de módulos
Alta resistencia térmica de 110°C a 125°C
La gama de relés MOSFET Aratas incluye modelos capaces de funcionar de forma fiable con los dispositivos sometidos a prueba a temperaturas que alcanzan los 125 °C, lo cual resulta fundamental para el mercado de los equipos de prueba automática (ATE). Estos tipos de paquetes sin conductores vienen en diversas especificaciones y también optimizan el espacio en la placa, lo que los convierte en una excelente opción para aplicaciones a altas temperaturas.
Aplicaciones
- Sistema de prueba de CI
- Manipuladores de pruebas de CI
- Sistema de prueba de obleas de semiconductores
- Probadores en circuito
- Probador general
- Equipo de prueba en línea para dispositivos portátiles y piezas de módulos
Baja corriente de fuga en estado apagado
Aratas cuenta con una selección de relés MOSFET diseñados con una corriente de fuga en estado de corte reducida, lo que los hace perfectos para aplicaciones de conmutación de señales de alta precisión. Estos modelos compactos pueden alcanzar una corriente máxima de fuga en estado apagado de solo 20 pA, lo que ayuda a reducir el ruido experimentado por el dispositivo que se está probando.
Aplicaciones
- Sistema de prueba de CI
- Manipuladores de pruebas de CI
- Sistema de prueba de obleas de semiconductores
- Probadores en circuito
- Probador general
- Equipo de prueba en línea para dispositivos portátiles y piezas de módulos
Relé electromecánico de baja señal
El relé electromecánico de señal baja Aratas se destaca por su reducido tamaño y su diseño SMT. Existen modelos blindados para conmutación de RF, lo que garantiza una larga durabilidad y alta fiabilidad por contacto para mantener la integridad de la señal, todo ello dentro de un tipo DPDT.
Aplicaciones
- Prueba y medición de CI
